Messsystem für die Zyklenfähigkeit von Leiterplattenmaterial mit Temperaturwechseltest

Messsystem für die Zyklenfähigkeit von Leiterplattenmaterial mit Temperaturwechseltest

Das Messsystem erfasst die Widerstandsänderung von Teststrukturen während des Temperaturwechseltests und ermittelt daraus die Zyklenfähigkeit des Leiterplattenmaterials. Der Test entspricht den Empfehlungen des Verbandes der Leiterplattenindustrie / ZVEI.

  • Rack mit 24 Leiterplattensteckplätzen für
    je 10 Durchkontaktierungen und mit
    2 Referenzstrukturen oder
    1 Referenzstruktur und 1 Pt100.
  • Widerstandsmessung in 4-Leiter-Technik mit
    Kompensation der Thermospannungen
  • Präzise Bewertung der Ausfallzeitpunkte
  • Komfortable Bedienoberfläche am PC

Technische Daten   (English)

Datenauswertung

Vergleich